產品詳情
簡單介紹：
供應CLJ-E型六通道塵埃粒子計數器
CLJ-E型六通道塵埃粒子計數器一次采樣可同時進行六種粒徑（ 0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0μm）的塵埃粒子數，并能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數目及其變化情況.對于研究、檢測和評價各種潔凈環(huán)境都十分方便。
供應CLJ-E型六通道塵埃粒子計數器
詳情介紹：
供應CLJ-E型六通道塵埃粒子計數器
CLJ-E型塵埃粒子計數器采用美國微電腦控制處理技術及*上***的SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵，具有功能多、測量精度高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點.儀器一次采樣可同時進行六種粒徑（ 0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0μm）的塵埃粒子數，并能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數目及其變化情況.
供應CLJ-E型六通道塵埃粒子計數器主要應用
廣泛應用于潔凈室檢測；過濾器現場檢測、撿漏；可監(jiān)測超凈工作臺、生物**柜，HVAC系統，計算機室、飲料包裝環(huán)境，醫(yī)療器械生產環(huán)境，醫(yī)院潔凈手術室，汽車噴涂環(huán)境微電子、制藥、生化制品、食品衛(wèi)生、精細化工、精密機械和航空航天等生產和科研部門.
供應CLJ-E型六通道塵埃粒子計數器技術參數
1.光源:半導體激光光源
2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.檢測范圍: 100級～100萬級
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L
5.粒徑通道: 0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0（μm）六檔
6.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數。
7.采樣周期: 1～10 (min)
8.自凈時間: ≤15 (min)
9.校準：可追溯美國國家標準技術協會（NIST），我公司已通過國家計量建標考核，可追溯*上海計量測量技術研究院可自行進行校準或第三方國家計量機構進行校準
10.工作環(huán)境: 溫度:10～35℃ 相對溫度:20～75%RH
11.*大功耗: 25W
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購）
（1） 溫度：0～50℃±1℃
（2） 濕度：0～100%RH±5%
13.采樣點數 2～7點設定
14.每點采樣次數 2～9次設定
15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準
16.工作時間：8 小時
17.電源：AC220V±10% 50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸: 260×130×340
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數字顯示或自選粒徑顯示。
CLJ-E型塵埃粒子計數器采用美國微電腦控制處理技術及*上***的SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵，具有功能多、測量精度高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點.儀器一次采樣可同時進行六種粒徑（ 0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0μm）的塵埃粒子數，并能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數目及其變化情況.
供應CLJ-E型六通道塵埃粒子計數器主要應用
廣泛應用于潔凈室檢測；過濾器現場檢測、撿漏；可監(jiān)測超凈工作臺、生物**柜，HVAC系統，計算機室、飲料包裝環(huán)境，醫(yī)療器械生產環(huán)境，醫(yī)院潔凈手術室，汽車噴涂環(huán)境微電子、制藥、生化制品、食品衛(wèi)生、精細化工、精密機械和航空航天等生產和科研部門.
供應CLJ-E型六通道塵埃粒子計數器技術參數
1.光源:半導體激光光源
2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.檢測范圍: 100級～100萬級
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L
5.粒徑通道: 0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0（μm）六檔
6.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數。
7.采樣周期: 1～10 (min)
8.自凈時間: ≤15 (min)
9.校準：可追溯美國國家標準技術協會（NIST），我公司已通過國家計量建標考核，可追溯*上海計量測量技術研究院可自行進行校準或第三方國家計量機構進行校準
10.工作環(huán)境: 溫度:10～35℃ 相對溫度:20～75%RH
11.*大功耗: 25W
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購）
（1） 溫度：0～50℃±1℃
（2） 濕度：0～100%RH±5%
13.采樣點數 2～7點設定
14.每點采樣次數 2～9次設定
15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準
16.工作時間：8 小時
17.電源：AC220V±10% 50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸: 260×130×340
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數字顯示或自選粒徑顯示。
21.備注: 內置打印機、自動判斷凈化等級、等動力采樣頭、采樣架